Profiler Permukaan Stylus Profesional
Professional Stylus Surface Profiler adalah instrumen pengukuran presisi tinggi yang dirancang untuk kekasaran permukaan yang akurat dan analisis profil komponen industri. Professional Stylus Surface Profiler menggunakan sensor stylus berlian untuk melacak variasi permukaan mikro dengan resolusi luar biasa, mengubah tekstur permukaan fisik menjadi data digital yang tepat. Professional Stylus Surface Profiler sangat ideal untuk aplikasi yang membutuhkan evaluasi kualitas permukaan yang ketat dan akurasi pengukuran yang dapat diulang di lingkungan manufaktur modern.
- Pengukuran: Teknologi profil probe
- Sensor Probe: Sensor inersia rendah (LIS3)
- Tekanan Probe: Menggunakan sensor LIS3: 1 hingga 15mg
- Tampilan Sampel: Pembesaran yang dapat dipilih, FOV 1 hingga 4mm
Deskripsi Produk
Professional Stylus Surface Profiler mengintegrasikan teknologi pengukuran canggih dengan platform yang stabil dan ramah pengguna, memberikan karakterisasi permukaan yang tepat untuk laboratorium modern dan lingkungan produksi. Ini menawarkan akurasi yang sangat baik, pengulangan yang andal, dan pengoperasian yang efisien, sehingga cocok untuk aplikasi penelitian dan kontrol kualitas industri.
Dirancang untuk analisis permukaan resolusi tinggi, sistem ini mendukung kekasaran skala nano, tinggi langkah, dan pengukuran topografi 3D. Ini banyak digunakan dalam mikroelektronika, semikonduktor, manufaktur tampilan, energi matahari, perangkat medis, dan penelitian bahan canggih, membantu pengguna mencapai kontrol proses yang unggul dari R&D hingga inspeksi akhir.
Professional Stylus Surface Profiler – Pengukuran Tinggi Langkah Tingkat Nanometer & Pengukuran Kekasaran Permukaan
Professional Stylus Surface Profiler adalah sistem pengukuran kontak presisi tinggi yang dirancang untuk analisis tinggi langkah, kekasaran permukaan, dan topografi permukaan 3D yang akurat. Menggunakan stylus berlian yang dengan lembut menelusuri permukaan sampel, ia menangkap variasi permukaan halus dengan resolusi dan stabilitas yang luar biasa. Ini memastikan hasil pengukuran yang sangat andal dan dapat diulang untuk aplikasi industri dan laboratorium yang menuntut.
Cara Kerjanya
Sistem ini beroperasi berdasarkan metode pengukuran gaya kontak. Saat stylus bergerak di sepanjang permukaan, perpindahan vertikalnya mencerminkan kontur permukaan. Gerakan ini ditangkap sebagai sinyal listrik melalui jembatan pengukur, menghasilkan output termodulasi amplitudo sebanding dengan perpindahan vertikal. Sinyal kemudian diperkuat, diproses melalui perbaikan sensitif fase, dan disaring untuk menghilangkan kebisingan dan gelombang Ini memastikan bahwa output akhir adalah sinyal yang bersih dan stabil, memberikan pengukuran ketinggian dan kekasaran langkah yang akurat bebas dari gangguan eksternal dan gelombang.
Aplikasi Utama
- Metrologi Wafer Semikonduktor: Pengukuran dan analisis wafer semikonduktor yang tepat untuk memastikan fabrikasi berkualitas tinggi.
- MEMS dan Struktur Mikro: Profil MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) dan struktur mikro yang akurat untuk pengukuran permukaan terperinci.
- Film Tipis dan Ketebalan Lapisan: Evaluasi ketebalan dan keseragaman film tipis dan pelapis, penting untuk berbagai proses manufaktur.
- Profil Permukaan Sel Surya: Pengukuran permukaan yang akurat untuk sel surya, mengoptimalkan kinerja dan kualitas manufaktur.
- Optik Presisi dan Perangkat Medis: Pengukuran optik presisi dan perangkat medis untuk mempertahankan standar kualitas dan kinerja yang tinggi.
Fitur utama
- Kinerja Stabil: Memastikan pengoperasian yang konsisten dengan transmisi cepat, kalibrasi otomatis, dan pengukuran yang akurat.
- Desain Desktop Revolusioner: Mencapai keseimbangan kinerja tinggi, kemudahan penggunaan, dan efektivitas biaya dalam pengaturan benchtop yang ringkas.
- Desain Ringkas & Andal: Konfigurasi perangkat keras yang dioptimalkan memastikan akurasi pengujian, stabilitas, dan efisiensi yang tinggi.
- Bahan Unggul & Daya Tahan: Dibuat dengan bahan berkualitas tinggi untuk memastikan daya tahan, masa pakai yang lama, dan kinerja yang efisien.
Fitur Peralatan
- Performa Tak Tertandingi: Reproduktifitas ketinggian anak tangga di bawah 4A, dengan kemampuan pemindaian yang ditingkatkan.
- Desain lengkungan tunggal: Memberikan stabilitas terobosan, meminimalkan gangguan kebisingan sekitar, dan memungkinkan rentang vertikal yang besar dengan pemindaian gaya rendah.
- Elektronik Cerdas yang Ditingkatkan: Mengurangi kebisingan dan meningkatkan akurasi pengukuran, mampu mengukur ketinggian langkah di bawah 10nm.
- Konfigurasi Perangkat Keras yang Dioptimalkan: Mengurangi waktu akuisisi data sebesar 40%, meningkatkan efisiensi pengukuran.
- Perangkat Lunak Sinkron Vision64 64-bit: Mempercepat pemrosesan data, meningkatkan kecepatan analisis data hingga 10x lipat.
- Antarmuka Pengguna yang Intuitif: Perangkat lunak Vision64 menawarkan antarmuka yang disederhanakan dan ramah pengguna untuk pengaturan dan analisis yang lebih mudah.
- Sistem Penyelarasan Ujung Otomatis: Menyederhanakan perubahan probe dengan perakitan probe yang menyelaraskan sendiri, mengurangi risiko selama transisi.
- Berbagai Model Probe: Menawarkan berbagai ukuran dan bentuk probe, memastikan kompatibilitas dengan hampir semua aplikasi.
- Desain Sensor Tunggal: Memberikan pengukuran gaya rendah dengan rentang pemindaian yang luas pada satu bidang.
- Pengujian Throughput Tinggi: Memastikan pengujian multi-sampel yang cepat untuk pengukuran film tipis yang tepat dengan pengulangan yang unggul.
Parameter teknis
| Teknologi Pengukuran | Teknologi profil probe |
| Fungsi Pengukuran | Pengukuran profil permukaan 2D |
| Pengukuran 3D opsional/ | |
| Tampilan Sampel | Pembesaran yang dapat dipilih, FOV 1 hingga 4mm |
| Probe Sensor | Sensor inersia rendah (LIS3) |
| Tekanan Probe | Menggunakan sensor LIS3: 1 hingga 15mg |
| Gaya Rendah (Opsional) | Menggunakan sensor gaya rendah N-Lite: 0,03 hingga 15mg |
| Opsi Probe | Rentang yang dapat dipilih jari-jari kelengkungan probe: 50nm hingga 25μm; |
| Ujung rasio tinggi-ke-diameter (HAR): 10μm * 2μm dan 200μm * 20μm; | |
| Tip khusus tersedia berdasarkan permintaan. | |
| Contoh Tahap X/Y | Terjemahan XY manual: 100mm (4 inci) |
| Terjemahan XY bermotor: 150mm (6 inci) | |
| Contoh Tahap Putar | Manual, rotasi 360 °; |
| Bermotor: rotasi 360 °; | |
| Sistem Komputer | Prosesor lini multi-core 64-bit, Windows* 7.0; Layar panel datar 23 inci opsional |
| Perangkat lunak | Perangkat lunak operasi dan analisis Vision64; |
| Perangkat lunak pengukuran stres: defleksi kantilever; | |
| Perangkat lunak jahitan: Perangkat lunak pencitraan pemindaian 3D | |
| Perangkat Peredam Getaran | Redaman guncangan tersedia |
| Rentang Panjang Pindai | 55mm (2 inci) |
| Titik data per pemindaian | Hingga 120.000 titik data |
| Ketebalan sampel maksimum | 50mm (2 inci) |
| Ukuran wafer maksimum | 200mm (8 inci) |
| Reproduktifitas tinggi langkah | <4A1σ pada langkah 1μm |
| Rentang Vertikal | 1mm (0,039 inci) |
| Resolusi Vertikal | Maksimum 1A (pada rentang vertikal 6.55μm) |
| Masukan Voltage | 100 - 240 VAC, 50 - 60Hz |
| Kisaran Suhu | Rentang Operasi 20 hingga 25 ° C (68 hingga 77 ° F) |
| Kisaran Kelembaban | ≤80%, Non-kondensasi |
| Ukuran dan berat sistem | 455mm W x 550mm D x 370mm H |
| (179 inci L x 22,6 inci. D x 14.5 inci. H); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Lampiran: 550mm L x 585mm W x 445mm H (216in. L x 23 inci. L x 175 inci. H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Kasus Aplikasi
- Pengujian Film Tipis – Memastikan Hasil Tinggi:
Dalam manufaktur semikonduktor, instrumen Step membantu memantau keseragaman pengendapan dan etsa, tegangan film tipis, dan ketebalan film tipis ITO. Reproduktifitasnya yang tinggi memastikan pengukuran yang akurat, mengoptimalkan etsa, dan pengendapan untuk hasil yang lebih baik. - Inspeksi Kekasaran Permukaan – Memastikan Kinerja:
Ideal untuk menilai kekasaran permukaan pada komponen presisi di seluruh industri seperti otomotif, kedirgantaraan, dan perangkat medis. Misalnya, ini mengukur kekasaran pelapis implan ortopedi untuk memastikan kualitas dan daya rekat produk. - Analisis Jalur Jaringan Surya – Mengurangi Biaya Produksi:
Sempurna untuk mengukur dimensi garis kisi perak konduktif pada panel surya. Instrumen langkah memastikan bahwa penggunaan perak dioptimalkan untuk konduktivitas yang lebih baik, berkontribusi pada penghematan biaya dalam produksi panel surya. - Teknologi Mikrofluida – Mendeteksi Desain dan Kinerja:
Digunakan dalam teknologi MEMS dan mikrofluida untuk pengujian kualifikasi. Fungsi pengukuran NLite gaya rendah memungkinkan deteksi langkah vertikal dan kekasaran yang tepat pada bahan fotosensitif, memastikan akurasi dan kinerja desain.
Mulailah dengan Solusi Anda Hari Ini!
Apakah Anda sedang mencari mesin CNC berkinerja tinggi atau mesin manual yang andal, kami menawarkan solusi yang disesuaikan untuk memenuhi kebutuhan spesifik Anda.
Hubungi kami hari ini untuk mendiskusikan kebutuhan Anda dan mendapatkan saran ahli. Biarkan kami membantu Anda mengoptimalkan proses manufaktur Anda!
Keuntungan kami
Didukung oleh lebih dari 25 tahun pengalaman teknik, tim kami menawarkan layanan komprehensif—mulai dari desain cetakan yang disesuaikan dan pemesinan presisi hingga produksi skala penuh—didukung oleh sistem jaminan kualitas yang kuat dan layanan pelanggan yang proaktif. Bersertifikat di bawah ISO9001, ISO14001, dan IATF 16949, kami terus berusaha untuk keunggulan dalam kualitas, inovasi, dan kepuasan pelanggan.
Presisi Toleransi Hingga ±0,002mm
Bahan asli pilihan 1 buah setara dengan 5 buah
Pemrosesan batch dan penyesuaian berdasarkan gambar, pengambilan sampel gratis.
Rentang Aplikasi
Pilihan yang disukai di berbagai industri.
